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倫德克(RoentDek)延遲線探測(cè)器
(延遲線探測(cè)器的功能與局限:了解更多)
單粒子 / 光子探測(cè)器
(光子計(jì)數(shù)功能)
具有時(shí)間與位置敏感性的延遲線探測(cè)器(DLD)
空間分辨率:優(yōu)于 45 微米均方根(RMS)
(最佳性能:17 微米均方根(RMS))
時(shí)間分辨率:優(yōu)于 100 皮秒均方根(RMS)
(最佳性能:21 皮秒均方根(RMS))
有效直徑:40 毫米、80 毫米(最大可達(dá) 150 毫米)
可用計(jì)數(shù)率范圍:從幾赫茲(Hz)到幾兆赫茲(MHz)
包含微通道板(MCP)
也可提供簡易定時(shí)陽極版本(僅飛行時(shí)間測(cè)量:DET40 / DET75 型號(hào))(鏈接)
可選配置:配備熒光屏(鏈接)
操作簡便
點(diǎn)擊此處了解更多 產(chǎn)品說明書(PDF 格式)
具備多擊中探測(cè)能力的探測(cè)器
(“零死時(shí)間"—— 六陽極(HEXanode)探測(cè)器)
三層設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)零死時(shí)間
專為多粒子事件設(shè)計(jì)
(例如:分子裂解過程)
更高的圖像線性度
有效直徑:40 毫米至 120 毫米
適用于 應(yīng)用場景
可選配置 1:帶中心孔的延遲線探測(cè)器
可選配置 2:搭配高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的讀出系統(tǒng)
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便捷式螺栓安裝系統(tǒng)
(例如:適用于工業(yè)應(yīng)用場景)
操作簡便的系統(tǒng):
讀出陽極置于真空環(huán)境外部
同樣適用于強(qiáng)磁場環(huán)境
可支持高達(dá) 20 千伏(KV)的微通道板(MCP)電壓
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光子探測(cè)
(例如:來自寬場顯微鏡、熒光壽命成像顯微鏡(FLIMS)的光子)
具有時(shí)間與位置敏感性的光電倍增管
適用于需位置探測(cè)的單光子計(jì)數(shù)(TCSPC,時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù))
緊湊型密封外殼
無需真空室
采用外部延遲線陽極進(jìn)行讀出
可能的應(yīng)用場景:
熒光顯微鏡(FLIMS,熒光壽命成像顯微鏡)
閃爍體產(chǎn)生的次級(jí)光子流
寬場成像
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